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晶振測(cè)試儀主要測(cè)試哪些參數(shù)

日期:2025-04-26 23:36
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摘要:晶振測(cè)試儀主要測(cè)試哪些參數(shù)

晶振測(cè)試儀主要測(cè)試哪些參數(shù)

晶振測(cè)試儀主要測(cè)試晶振的頻率,晶振的PPM(誤差)值

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

采用微處理器技術(shù),實(shí)現(xiàn)了智能化測(cè)量,本系列儀器采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù)實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量。它測(cè)量精度高,靈敏度高,速度快,該機(jī)前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。

具有PPM測(cè)量功能,預(yù)置頻率F0可任意設(shè)置。該功能特別適合于晶體振動(dòng)器生產(chǎn)企業(yè),測(cè)本測(cè)試儀采用高速CPLD邏輯芯片,測(cè)量結(jié)果更整確!

主要特征

2.1 本機(jī)采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù),測(cè)量精度高,測(cè)量范圍寬,真正實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量,測(cè)量速度快,靈敏度高。

2.2 采用單片微機(jī)技術(shù)進(jìn)行周期頻率測(cè)量和智能化管理,使得儀器具有很高的可靠性和優(yōu)良的性能/價(jià)格比。

2.3 整機(jī)采用大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì),CPLD器件的運(yùn)用,使儀器元器件大為減少,可靠性有了很大的提高,平均無(wú)故障工作時(shí)間≥10000h。

·     整機(jī)外型美觀大方,體積小,重量輕,使用方便。

3.技術(shù)參數(shù)

3.1 測(cè)量范圍

·     頻率測(cè)量:A通道:1Hz~100MHz;

粵公網(wǎng)安備 44030602001687號(hào)